近年來隨著光通信的高速發(fā)展，市場上圍繞著光通信的光器件種類眾多、加上產(chǎn)品迭代快，所以對測量儀的要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域，其對儀表測量的精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出了嚴峻的挑戰(zhàn)，由此東隆科技經(jīng)過多年的技術研發(fā)并攻克以上眾多難題，于去年成功發(fā)布了國產(chǎn)多功能光矢量分析儀（OCI-V）。

光矢量分析儀（OCI-V）是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數(shù)的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。該產(chǎn)品采用*的光路設計以及先進算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。

光矢量分析儀（OCI-V）一經(jīng)推出就受到目標用戶的好評，同時也不斷吸納市場反饋意見，專注設備創(chuàng)新升級，不斷優(yōu)化設備性能，以提供給客戶更優(yōu)質的產(chǎn)品。

而作為國產(chǎn)業(yè)內(nèi)的先驅者企業(yè)東隆科技自研的光矢量分析儀于近日推出損耗80dB高動態(tài)范圍測試選項。如下圖所示：

圖2.80dB動態(tài)范圍

• 自校準

• 測量長度：200m

• 波段：C+L、O波段（可選）

• 1秒內(nèi)測量多種光學參數(shù)

• 平面波導器件

• 硅光器件

• 光纖器件

• 波長可調器件、放大器、濾波器

• 偏振相關損耗PDL

• 偏振模色散PMD

• 插損IL

• 群延時GD

• 色散CD

• 瓊斯矩陣參數(shù)

• 光學相位

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